УДК 539.26:681.3.06
© В. В. Корчевский, Е. А. Жуков, Е. О. Киле, А. В. Сюй, 2012
ИСКЛЮЧЕНИЕ СИСТЕМАТИЧЕСКИХ ПОГРЕШНОСТЕЙ ПРИ ИЗМЕРЕНИИ ШИРИНЫ ДИФРАКЦИОННЫХ ЛИНИЙ ЧИСЛЕННЫМИ МЕТОДАМИ
Корчевский В. В. – д-р физ.-мат. наук, проф. кафедры «Электротехника и электроника», тел. (4212) 37-51-85, e-mail: [email protected]; Жуков Е. А. – д-р физ.-мат. наук, проф. кафедры «Электротехника и электроника», тел. (4212) 37-51-85, e-mail: [email protected] (ТОГУ); Киле Е. О. – асп., тел. (4212) 40-76-14, e-mail: [email protected]; Сюй А. В. – канд. физ.-мат. наук, проф. кафедры «Физика», тел. (4212) 40-76-14, e-mail: [email protected] (ДВГУПС)
Рассмотрено использование численных методов для оценки систематических погрешностей измерения ширины дифракционных линий с помощью рентгеновского дифрактометра. Показана роль конструктивных особенностей дифрактометров в формировании систематических погрешностей.
Ключевые слова: рентгеновский дифрактометр, численные методы, систематическая погрешность.
Загрузить статью (342.9 Кб)
